低損耗材料介電性能測試系統(tǒng) （0.8GHz~170GHz）
方案概述
低損耗材料介電性能測試系統(tǒng)測試頻率范圍可達(dá)0.8GHz~170GHz，可實(shí)現(xiàn)低損耗材料復(fù)介電常數(shù)高精度測試。系統(tǒng)由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、測試夾具、連接器及系統(tǒng)軟件等組成，根據(jù)用戶不同頻率測試需求，可選用開放同軸諧振腔、分體諧振腔、準(zhǔn)光學(xué)諧振腔三種不同測試夾具進(jìn)行測試。
低損耗材料介電性能測試系統(tǒng)采用諧振法進(jìn)行測試，具有測試精度高、速度快、測試便利等優(yōu)點(diǎn)，采用一腔多模點(diǎn)頻測試，可實(shí)現(xiàn)同一腔體寬頻帶內(nèi)多頻點(diǎn)介電性能測試功能。
主要特點(diǎn)
測試精度高、速度快
系統(tǒng)配置簡單、易操作
測量軟件簡單易用，自動化程度高
開放同軸諧振腔測試方法
開放同軸諧振腔測試法根據(jù)用戶需求可選用0.8GHz/2.45GHz/4.2GHz/6GHz/7.6GHz、1GHz/3GHz/5GHz/7GHz/9GHz、2GHz/6GHz/10GHz/14GHz/18GHz三種規(guī)格腔體進(jìn)行測試。開放同軸諧振腔操作方便，樣品要求低，僅需將樣品加工成1cm見方以上、表面光滑的方片即可，樣品放置在諧振腔頂端。該方法特點(diǎn)是測試方便，可在一定頻帶內(nèi)完成多個頻點(diǎn)的高精度測試。
分體諧振腔測試方法
分體式諧振腔為兩個對稱半圓柱結(jié)構(gòu)，待測試樣品加工成平板狀放置在兩個半腔之間。利用加載樣品前后諧振特性參數(shù)改變進(jìn)行計算得到材料相對介電常數(shù)和損耗角正切。分體諧振腔為單點(diǎn)頻測試諧振腔，可根據(jù)用戶測試頻點(diǎn)需求定制腔體。
準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測試方法
準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測試平臺為開放式結(jié)構(gòu)，具有超寬頻帶（12GHz~170GHz）測試的優(yōu)點(diǎn)，在損耗測量精度上具備更大優(yōu)勢。根據(jù)用戶不同測試頻率需求可選配不同配置的準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測試平臺。
微擾諧振腔測試方法
測試采用圓柱微擾諧振腔測試夾具，諧振腔測試為單點(diǎn)頻測試，測試樣品為長條形圓柱或矩形條，根據(jù)用戶需求定制測試頻點(diǎn)，最高頻率可到20GHz。
系統(tǒng)軟件
低損耗材料介電性能測試系統(tǒng)軟件可以在0.8GHz~170GHz頻段多頻點(diǎn)測量固體介質(zhì)材料的介電常數(shù)、損耗角正切等電性能參數(shù)，軟件可自動進(jìn)行多頻點(diǎn)識別測試。
測試方法選擇功能
根據(jù)選用的測試方法的不同，會進(jìn)行相應(yīng)方法的測試參數(shù)設(shè)置及校準(zhǔn)提示。
介電性能計算功能
根據(jù)空腔及加載樣品后的S參數(shù)，可對低損耗類樣品的Q值及頻率進(jìn)行識別并提取，通過軟件實(shí)現(xiàn)寬頻帶下對樣品多頻點(diǎn)計算功能。
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