觀測(cè)：歷史趨勢(shì)的無(wú)縫顯示
低損耗材料介電性能測(cè)試系統(tǒng) （0.8GHz~170GHz）
方案概述
低損耗材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試頻率范圍可達(dá)0.8GHz~170GHz，可實(shí)現(xiàn)低損耗材料復(fù)介電常數(shù)高精度測(cè)試。系統(tǒng)由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、測(cè)試夾具、連接器及系統(tǒng)軟件等組成，根據(jù)用戶(hù)不同頻率測(cè)試需求，可選用開(kāi)放同軸諧振腔、分體諧振腔、準(zhǔn)光學(xué)諧振腔三種不同測(cè)試夾具進(jìn)行測(cè)試。
低損耗材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)采用諧振法進(jìn)行測(cè)試，具有測(cè)試精度高、速度快、測(cè)試便利等優(yōu)點(diǎn)，采用一腔多模點(diǎn)頻測(cè)試，可實(shí)現(xiàn)同一腔體寬頻帶內(nèi)多頻點(diǎn)介電性能測(cè)試功能。
主要特點(diǎn)
測(cè)試精度高、速度快
系統(tǒng)配置簡(jiǎn)單、易操作
測(cè)量軟件簡(jiǎn)單易用，自動(dòng)化程度高
開(kāi)放同軸諧振腔測(cè)試方法
開(kāi)放同軸諧振腔測(cè)試法根據(jù)用戶(hù)需求可選用0.8GHz/2.45GHz/4.2GHz/6GHz/7.6GHz、1GHz/3GHz/5GHz/7GHz/9GHz、2GHz/6GHz/10GHz/14GHz/18GHz三種規(guī)格腔體進(jìn)行測(cè)試。開(kāi)放同軸諧振腔操作方便，樣品要求低，僅需將樣品加工成1cm見(jiàn)方以上、表面光滑的方片即可，樣品放置在諧振腔頂端。該方法特點(diǎn)是測(cè)試方便，可在一定頻帶內(nèi)完成多個(gè)頻點(diǎn)的高精度測(cè)試。
分體諧振腔測(cè)試方法
分體式諧振腔為兩個(gè)對(duì)稱(chēng)半圓柱結(jié)構(gòu)，待測(cè)試樣品加工成平板狀放置在兩個(gè)半腔之間。利用加載樣品前后諧振特性參數(shù)改變進(jìn)行計(jì)算得到材料相對(duì)介電常數(shù)和損耗角正切。分體諧振腔為單點(diǎn)頻測(cè)試諧振腔，可根據(jù)用戶(hù)測(cè)試頻點(diǎn)需求定制腔體。
準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測(cè)試方法
準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測(cè)試平臺(tái)為開(kāi)放式結(jié)構(gòu)，具有超寬頻帶（12GHz~170GHz）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)，在損耗測(cè)量精度上具備更大優(yōu)勢(shì)。根據(jù)用戶(hù)不同測(cè)試頻率需求可選配不同配置的準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測(cè)試平臺(tái)。
微擾諧振腔測(cè)試方法
測(cè)試采用圓柱微擾諧振腔測(cè)試夾具，諧振腔測(cè)試為單點(diǎn)頻測(cè)試，測(cè)試樣品為長(zhǎng)條形圓柱或矩形條，根據(jù)用戶(hù)需求定制測(cè)試頻點(diǎn)，最高頻率可到20GHz。
系統(tǒng)軟件
低損耗材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)軟件可以在0.8GHz~170GHz頻段多頻點(diǎn)測(cè)量固體介質(zhì)材料的介電常數(shù)、損耗角正切等電性能參數(shù)，軟件可自動(dòng)進(jìn)行多頻點(diǎn)識(shí)別測(cè)試。
測(cè)試方法選擇功能
根據(jù)選用的測(cè)試方法的不同，會(huì)進(jìn)行相應(yīng)方法的測(cè)試參數(shù)設(shè)置及校準(zhǔn)提示。
介電性能計(jì)算功能
根據(jù)空腔及加載樣品后的S參數(shù)，可對(duì)低損耗類(lèi)樣品的Q值及頻率進(jìn)行識(shí)別并提取，通過(guò)軟件實(shí)現(xiàn)寬頻帶下對(duì)樣品多頻點(diǎn)計(jì)算功能。
本公司代理銷(xiāo)售中電科思儀、華儀、橫河、是德科技/（安捷倫）、泰克/吉時(shí)利、固緯電子、普源精電、羅德與施瓦茨、羅森伯格、阿美特克、臺(tái)灣致茂、福祿克、高美測(cè)儀、艾德克斯等品牌;
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